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STMicroelectronics vacancy search engine

Process Technology Developm M/F


General information

 KEY INFORMATION:

  Location: Europe, France, Crolles

Type of contract: Regular

Job open date: 01/10/2020

Company department: Process Technology Developm

 

 STMicroelectronics is a leading semiconductor company, a world key player thanks to our 43,200 employees including 8,300 working in R&D.

 ST’s products are found everywhere today. And together with our customers, we are enabling smarter driving, homes, factories, and cities, along with the next generation of mobile and Internet of Things devices. Everywhere microelectronics makes a positive contribution to people lives, ST is there.

 In 2018, we were ranked by the Randstad Employer Brand Research Award among the 5 most attractive companies in France, for our values of excellence, our integrity and the respect of our employees.

 

 POSTING PRESENTATION:

L'optimisation du contrôle des plaques durant leur fabrication est une thématique d intérêt que ce soit dans un contexte de R&D ou de production en volume. Ce contrôle s'appuie actuellement principalement sur des techniques d'analyse de défectivité sur des puces commerciales et sur des techniques de métrologie qui mesurent précisément les propriétés de zones dédiées non fonctionnelles. Le sujet de thèse proposé vise à exploiter la sensibilité de la technique de métrologie nommée ellipsométrie spectroscopique afin de développer une stratégie innovante d'analyse de défectivité pour le suivi de la dérive intra et inter plaque.
Rattaché au groupe de Métrologie de STMicroelectronics Crolles, le candidat sera intégré au sein du laboratoire LTM-CNRS (MINATEC). Le laboratoire dispose d'une plateforme expérimentale disposant d'une plage de longueur d'onde extrêmement large (de 145nm à 11µm) permettant d'obtenir des cartographies sur des plaques 300mm. Le candidat(e) devrait définir le protocole de traitement de la variation de l'état de la polarisation de la lumière lors de cette cartographie afin d'accéder à des analyses de défectivité (sans aucun modèle métrologique). Il/elle devra élaborer une méthode d'analyse robuste basée sur une approche novatrice de deep learning qui permettra de prévoir les longueurs d'onde présentant la meilleure sensibilité au type de défaut à détecter. Pour cela, le candidat(e) disposera de cas d'intérêts identifiés par STMicroelectronics et s'appuiera sur des informations obtenues avec d'autres techniques de métrologie et/ou de défectivité présentes sur le site de Crolles.
Le candidat(e) devra développer une approche scientifique novatrice pouvant déboucher sur l'implémentation de ses travaux auprès de fournisseurs industriels d'équipement de métrologie.

 

PROFILE REQUIRED:

  •   Education Level Required - BAC+5 (INGENIEUR,DESS,DEA...), Years of Work Experience - 0 to 1, Desired Competencies are  - Physics Of Semiconductors, Optics and optical systems, Data Collection & Sampling.The Other skills required are Ideally coding, Deep Learning and data analysis
  •  5 - Master degree
  •  Less than 2 years

 

CONTACT & APPLY FORM:

 Learn more about STMicroelectronics on: www.st.com

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