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Alternance H/F - Analyses dimensionnelles de nanostructures par diffusion de rayons X pour c M/F


General information

 KEY INFORMATION:

  Location: Europe, France, Crolles

Type of contract: Temporary

Job open date: 01/10/2020

Company department: Assistancy

 

 STMicroelectronics is a leading semiconductor company, a world key player thanks to our 43,200 employees including 8,300 working in R&D.

 ST’s products are found everywhere today. And together with our customers, we are enabling smarter driving, homes, factories, and cities, along with the next generation of mobile and Internet of Things devices. Everywhere microelectronics makes a positive contribution to people lives, ST is there.

 In 2018, we were ranked by the Randstad Employer Brand Research Award among the 5 most attractive companies in France, for our values of excellence, our integrity and the respect of our employees.

 

 POSTING PRESENTATION:

"Le sujet dalternance porte sur la mise en uvre de la technique de diffusion de rayons X (SAXS) sur des structures constituées de réseau périodique de nanostructures afin den établir de façon juste les caractéristiques morphologique et dimensionnelles. Cette technique nécessite actuellement lutilisation de faisceau synchrotron ou de source de rayon X optimisée disponible dans peu de laboratoire. Le besoin industriel est de réaliser des échantillons puis de les calibrer par cette technique à des fins de raccordement en justesse de façon à satisfaire aux exigences normatives.
Rattaché au Module de Métrologie de STMicroelectronics à Crolles, le candidat(e) sera également intégré au sein du groupe de Métrologie et de Caractérisation Physique de LETI (MINATEC). Le candidat(e) devrait tout dabord définir les configurations géométriques optimales des nanostructures à caractériser. Il sera ensuite amené à les mesurer sur les équipements industriels de la salle blanche de ST mettant en uvre la microscopie électronique et la diffusion optique (scattérométrie). Ces mêmes structures seront ensuite caractérisées par CD-SAXS au laboratoire du LETI. Avec lappui du service Qualité, Le candidat devra établir le protocole de raccordement et proposer une documentation de type certification détalons secondaires.
Ce sujet nécessite un gout pour lexpérimentation et une bonne compréhension des techniques de caractérisation avancée. Lalternance devra établir un pont entre les besoins industriels et les techniques de laboratoire avancées.
Ce sujet nécessite un gout pour lexpérimentation et une bonne compréhension des techniques de caractérisation Lalternance devra établir un pont entre les besoins industriels et les techniques avancées de laboratoire."

 

PROFILE REQUIRED:

  •  Education Level Required - BAC+5 (INGENIEUR,DESS,DEA...).The Other skills required are Physical Characterisation, Material sciences, instrumentation, Metrology
  •  5 - Master degree
  •  Less than 2 years

 

CONTACT & APPLY FORM:

 Learn more about STMicroelectronics on: www.st.com

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